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Design and manufacture of a directional coupler in LTCC
por:
Lozano, A.; Fernández, J.; Roberti, M.; Henze, A.; Gavini, A.
Materias: Acoplamientos; Dispositivos electrónicos; Materiales cerámicos; Híbridos; Microondas; Diseño; Fabricación
INTI; 2006
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Acoplador híbrido con tecnología LTCC
por:
Lozano, A.; Roberti, M.; Henze, A.; Gavini, A.
Materias: Acoplamientos; Microondas; Señales; Amplitud; Nivel sonoro; Dispositivos electrónicos; Potencia; Películas gruesas
INTI; 2007
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Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 1
por:
Monasterios, G.; Silva, H.; Henze, A.; Tempone, N.
Materias: Mismatch; Mediciones; Incertidumbre; Radiofrecuencia; Transmisión; Probabilidades
INTI-Electrónica e Informática; 2011
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Corrección del mismatch e incertidumbre asociada en la medición de potencia en RF
por:
Silva, H.; Monasterios, G.; Henze, A.; Tempone, N.
Materias: Mismatch; Mediciones; Incertidumbre; Potencia; Radiofrecuencia; Calibración; Sensores; Variancia
CENAM; 2012
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Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 2
por:
Silva, H.; Monasterios, G.uillermo; Henze, A.; Tempone, N.
Materias: Mismatch; Métodos de cálculo; Validación; Variancia; Radiofrecuencia; Incertidumbre; Generadores eléctricos; Potencia; Mediciones; Medidores; Sensores; Atenuadores
INTI-Electrónica e Informática; 2012
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Nuevo método para el cálculo de incertidumbre por mismatch en la medición de potencia en RF
por:
Silva, H.; Monasterios, G.; Tempone, N.; Henze, A.
Materias: Incertidumbre; Mediciones; Potencia
INTI; 2013
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Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI
por:
Monasterios, G.; Silva, H.; Henze, A.; Tempone, N.
Materias: Frecuencia; Dispersión; Microondas; Incertidumbre; Reflexión; Calibración; Instrumentos de medición; Metrología
2013
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Multivariate statistics applied to assess measurement uncertainty of complex reflection coefficient
por:
Benjamín, M.; Silva, H.; Monasterios, G.; Tempone, N.; Henze, A.
Materias: Técnicas estadísticas; Errores; Mediciones; Incertidumbre; Radiofrecuencia
IEEE; 2014
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