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Design and fabrication of high value standard resistors at INTI
por:
Bierzychudek, M.; Garcia, R.; Real, M.; Tonina, A.
Materias: Resistores; Resistencia eléctrica; Diseño; Normalización; Mediciones eléctricas
IEEE; 2008
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Comparison of the Josephson voltage standards of the INTI and the BIPM (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K10.a)
por:
Solve, S.; Chayramy, R.; Stock, M.; Iuzzolino, R.; Tonina, A.
Materias: Mediciones eléctricas; Voltaje; Normas; Detectores; Incertidumbre; Resistencia eléctrica; Precisión
; 2012
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High resistance measurements with a two-terminal cryogenic current comparator
por:
Bierzychudek, M.; Tonina, A.
Materias: Resistencia eléctrica; Mediciones; Comparadores; Criogenia; Incertidumbre; Resistores
IEEE; 2012
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Intercomparación de resistencia en 1 Ω [Ohm] y 10 Ω [Ohm] entre INTI e INIMET
por:
Tonina, A.; Currás, M.; Navarro González, M.
Materias: Resistencia eléctrica; Ohm
INTI; 2013
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Crecimiento epitaxial de grafeno en SiC(0001) para su aplicación como resistencia estándar
por:
Real, M.A.; Tonina, A.; Elmquist, R.E.; Lass, E.A.; Liu, F.H.; Soons, J.
Materias: Circuitos integrados; Carburos; Silicio
INTI; 2013
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