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Modeling of a sampling system based on Sigma-Delta ADC for data acquisition in metrology
por:
Iuzzolino, Ricardo; Palafox, Luis; Behr, Ralf
Materias: Convertidores digital-analógico; Modelos; Muestreo; Precisión; Metrología; Mediciones; Transmisión de señales
IEEE; 2012
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Towards a quantum sampling system
por:
Iuzzolino, Ricardo; Behr, Ralf; Bierzychudek, Marcos E.; Palafox, Luis
Materias: Teoría cuántica; Metrología; Voltaje; Voltametría; Instrumentos de medición; Convertidores digital-analógico; Metrología
IEEE; 2016
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