Colección INTI +

Shen, Tian
Characteristics of graphene for quantized hall effect measurements
por: Elmquist, Randolph E.; Shen, Tian; Real, Mariano; Calizo, Irene G.; Bush, Brian G.; He, Guowei; Yang, Yanfei; Klimov, Nikolai; Newell, David B.; Hight-Walker, Angela R.; Feenstra, Randall M.
Materias: Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Propiedades eléctricas; Propiedades físicas; Grafito; Ensayos
NIST; 2012

Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards
por: Real, Mariano; Shen, Tian; Jones, George R.; Elmquist, Randolph E.; Soons, Johannes A.; Davydov, Albert V.
Materias: Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Morfología; Superficies; Grafito; Ensayos
IEEE; 2012

Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards
por: Real, Mariano; Lass, Eric A.; Liu, Fan-Hung; Shen, Tian; Jones, George R.; Soons, Johannes A.; Newell, David B.; Davydov, Albert V.; Elmquist, Randolph E.
Materias: Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Difusión; Crecimiento; Morfología; Superficies; Grafito; Ensayos
IEEE; 2013