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Application of the Berreman effect to the characterization of TiO2 thin layers formed onto titanium substrates
por:
Parodi, M. B.; Rodríguez, L.; Pazos, L.; González Ruiz, J.; Paz Ramos, A.; Ybarra, G.
Materias: Titanio; Dióxido de titanio; Películas delgadas; Recubrimientos superficiales; Espectroscopía; Espectros infrarrojos
Elsevier; 2012
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