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Guest editorial
por:
Jones, George R.; Lipe, Thomas; Landim, Regis; Di Lillo, Lucas
Materias: Sistema Interamericano de Metrología; Metrología; Calibración; Patrones; Ángulos; Medidores; Mediciones; Instrumentos de medición
IEEE; 2013
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SIM comparison of AC-DC current transfer difference, SIM.EM-K12
por:
Di Lillo, Lucas; Yasuda, Eliana; Lipe, Thomas; Campos, Sara; Spaggiari, Alfredo; Slomovitz, Daniel; Faverio, Carlos; Filipski, Piotr; Vasconcellos, Renata; Geronymo, Gean; Afonso, Renato; Halawa, Mamdouh
Materias: Electrometría; Mediciones eléctricas; Corriente eléctrica; Corriente alterna; Corriente continua; Transferencia de energía; Incertidumbre; Precisión; Normalización
IEEE; 2014
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