Colección INTI +

Landim, Regis
Guest editorial
por: Jones, George R.; Lipe, Thomas; Landim, Regis; Di Lillo, Lucas
Materias: Sistema Interamericano de Metrología; Metrología; Calibración; Patrones; Ángulos; Medidores; Mediciones; Instrumentos de medición
IEEE; 2013