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Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards
por:
Real, Mariano; Shen, Tian; Jones, George R.; Elmquist, Randolph E.; Soons, Johannes A.; Davydov, Albert V.
Materias: Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Morfología; Superficies; Grafito; Ensayos
IEEE; 2012
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Guest editorial
por:
Jones, George R.; Lipe, Thomas; Landim, Regis; Di Lillo, Lucas
Materias: Sistema Interamericano de Metrología; Metrología; Calibración; Patrones; Ángulos; Medidores; Mediciones; Instrumentos de medición
IEEE; 2013
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Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards
por:
Real, Mariano; Lass, Eric A.; Liu, Fan-Hung; Shen, Tian; Jones, George R.; Soons, Johannes A.; Newell, David B.; Davydov, Albert V.; Elmquist, Randolph E.
Materias: Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Difusión; Crecimiento; Morfología; Superficies; Grafito; Ensayos
IEEE; 2013
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