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Caracterización indirecta del patrón nacional de tiempo a corto plazo τ = 1 s
por:
Álvarez, L.; Bastida, K.; Yapur, F.
Materias: Trazabilidad; Mediciones; Patrones; Tiempo
INTI; 2013
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Estimación de incertidumbres en el procesamiento digital de imágenes, asociada a la medición interferométrica de desvío de planitud
por:
Álvarez, L.; Bastida, K.; Yapur, F.
Materias: Mediciones; Incertidumbre; Óptica
INTI; 2013
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