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Towards a metrology class ADC based on Josephson junction devices
por:
Belcher, Allan; Williams, Jonathan; Ireland, Jane; Iuzzolino, Ricardo; Bierzychudek, Marcos E.; Dekker, Ronald; Herick, Jonas; Behr, Ralf; Schaapman, Kars
Materias: Voltaje; Corriente alterna; Corriente continua; Metrología; Mediciones eléctricas
IOP; 2018
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