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Towards a metrology class ADC based on Josephson junction devices
por:
Belcher, A.; Williams, J.; Ireland, J.; Iuzzolino, R.; Bierzychudek, M. E.; Dekker, R.; Herick, J.; Behr, R.; Schaapman, K.
Materias:Voltaje; Corriente alterna; Corriente continua; Metrología; Mediciones eléctricas
IOP;2018
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