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Evaluación de las incertidumbres de medición del sistema Josephson del INTI
por:
Iuzzolino, R.; Melo, J.; Laiz, H.; Tischler, M.
Materias: Mediciones eléctricas; Incertidumbre; Amperio; Voltaje; Metrología; Errores; Calibración
INTI; 2002
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Divisor inductivo binario controlado por computadora
por:
Iuzzolino, R.; García, R.; Laiz, H.
Materias: Mediciones eléctricas; Dispositivos eléctricos; Sistemas computarizados; Convertidores digital-analógico; Impedancia
INTI; 2002
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Desarrollo de una llave de conmutación automática para la comparación de resistores patrones
por:
Boaglio, C.; Laiz, H.; Iuzzolino, R.; Melo, J.
Materias: Resistores; Patrones; Conmutación; Llaves; Resistencia eléctrica; Sistemas computarizados; Mediciones eléctricas; Incertidumbre
INTI; 2002
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Desarrollo de un microvoltímetro vectorial
por:
Iuzzolino, R.; Laiz, H.; García, R.
Materias: Voltímetros; Instrumentos de medición; Mediciones; Impedancia; Señales; Procesamiento de señales; Amplificadores; Calibración
INTI; 2002
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Puente para la medición de resistores patrones en corriente alterna
por:
Iuzzolino, R.; Laíz, H.; García, R.
Materias: Resistores; Puentes; Mediciones; Corriente alterna; Detección; Señales
INTI; 2004
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Bilateral Comparison of 1.018 V and 10 V Standards between the INTI (Argentina) and the BIPM, August to October 2009 (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K11.a and b)
por:
Bierzychudek, Marcos E.; Tonina, Alejandra; Iuzzolino, R.; Real, M.; Solve, S.; Chayramy, R.; Stock, M.
Materias: Voltaje; Mediciones; Temperatura; Presión atmosférica; Normalización; Metrología
2009
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Comparison of the Josephson voltage standards of the INTI and the BIPM (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K10.a)
por:
Solve, S.; Chayramy, R.; Stock, M.; Iuzzolino, R.; Tonina, A.
Materias: Mediciones eléctricas; Voltaje; Normas; Detectores; Incertidumbre; Resistencia eléctrica; Precisión
; 2012
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