Colección INTI-SNRD


Título: Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld
Fuente: TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Autor/es: Amore, S.; Schvartz, M.; Álvarez, R.; Loiacono, N.
Materias: Difracción de rayos x; Estructura cristalina
Editor/Edición: INTI; 2017
Licencia: De acuerdo con las condiciones establecidas por el art. 10 del "Reglamento Operativo para la Aplicación de la Ley Nº 26.899" (Res. 753 - E/2016 del Min. de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva), se permite la lectura, descarga e impresión de esta obra. Todos los demás derechos están reservados
Afiliaciones: Amore, S. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
Schvartz, M. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
Álvarez, R. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
Loiacono, N. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
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