Colección INTI-SNRD

Yapur, F. G.
Desarrollo de un peine de frecuencias ópticas para aplicaciones metrológicas
por: Yapur, F. G.; Luna, D.; Mingolla, G.
Materias:Metrología física; Óptica; Microondas; Frecuencia; Metrología; Fibras ópticas; Trazabilidad
INTI;2022