Colección INTI-SNRD

Ugarteche, S.
Arqueometría : técnicas de rayos X aplicadas al análisis químico en patrimonio cultural
por: Álvarez, R.; Ugarteche, S.; Amore, S.; Loiacono, N.; Schvartz, M.; Spina, J.; Álvarez, D.
Materias:Rayos X; Análisis químico; Patrimonio; Bienes culturales
INTI;2017