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Arqueometría : técnicas de rayos X aplicadas al análisis químico en patrimonio cultural
por:
Álvarez, R.; Ugarteche, S.; Amore, S.; Loiacono, N.; Schvartz, M.; Spina, J.; Álvarez, D.
Materias:Rayos X; Análisis químico; Patrimonio; Bienes culturales
INTI;2017
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Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld
por:
Amore, S.; Schvartz, M.; Álvarez, R.; Loiacono, N.
Materias:Difracción de rayos x; Estructura cristalina
INTI;2017
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